LDI-TOF

고정밀 질량 분포 이미지 분석

· Laser Desorption / Ionization – Time of Flight(LDI-TOF) 기술을 이용하여 OLED 패널, 소재, 소자 등의 분석이 가능한 질량분석 장비
· 진공관 내에서 레이저에 의해 OLED 시료가 이온화되어 발생한 이온 입자의 운동성을 기반으로 질량 분포 스펙트럼 분석
· 극세초점 레이저 및 고정밀 스테이지를 적용하여 공간적 질량분포를 나타내는 Mass Imaging 데이터 측정 및 분석 가능
· 다양한 높이의 OLED 샘플 측정을 위한 Prep Station 및 Holder/Plate 제공
· 협소한 공간에도 설치가 가능하며, 소모품 비용이 저렴하고 다른 분석법에 비해 신속한 측정 가능

고분자분석

[PEG2000]

다양한 고분자의 확인

[OLED Materials]

디스플레이 소재 성분분석 및 QC

픽셀(Pixel) 별 질량 이미지

LDI-TOF를 이용한 OLED 분석 논문 (세계디스플레이학회 SID 발표)

LDI-TOF(Laser Desorption Ionization Time of Flight)는 OLED 분석 및 검사용 질량분석 장비로써, OLED 패널을 픽셀(Pixel) 단위로 직접 분석이 가능

LDI-TOF는 당사가 직접 개발한 5㎛ 이하의 Spot Size까지 분석이 가능한 극세초점 레이저 광학계를 탑재하고 있으며, 전 세계에서 유일하게 장비 운영 소프트웨어를 최신 웹기술(node.js) 기반으로 개발하여 편의성과 확장성을 보유

아스타는 차세대 LDI-TOF 기반 OLED 분석 장비를 를 전 세계 최초로 개발에 성공

장비 (Specification)

Laser	Nd:YLF UV laser (349nm), 1G shots, 5,000hours
Vacuum System	High Vacuum System
LxWxH	580x1023x2144 mm
Weight	350 kg
Option*	Bio Mass Imaging HR microscope