- • 采用Laser Desorption / Ionization – Time of Flight（LDI-TOF）技术对OLED面板、材料、元件等进行分析的质量分析设备。
- • 以OLED试样在真空管内被激光离子化后发生的离子粒子的运动性为基础分析质谱。
- • 采用超微焦点激光和高精密平台，可检测和分析显示质量的空间分布的Mass Imaging数据。
- • 提供Prep Station和Holder/Plate，便于检测不同高度的OLED样本。
- • 在狭窄的空间也能进行安装，消耗品费用低，与其他分析法相比，可快速进行检测。
OASys®
OLED分析系统
各像素（Pixel） 的质量图片
利用OASys®的 OLED分析论文（国际显示器学会SID发表）
OASys®是OLED分析及检测用的LDI-TOF（Laser Desorption Ionization Time of Flight）质量分析设备，可以像素（Pixel）单位直接分析OLED面板。
OASys®搭载了由本公司开发的能够分析5㎛以下Spot Size的超微焦点激光光学系统，基于最新网络技术（node.js）开发出全球唯一的设备运行软件，实现更好的便捷性和扩展性。
ASTA于全球抢先开发出新一代基于LDI-TOF的OLED分析设备。
设备（Specification）
| TOF Flight Length | 2.23m (Reflection), 1.29 (Linear) |
|---|---|
| Acceleration Voltage | ±20kV（Positive ion及Negative ion检测） |
| Vacuum Level | 5 X 10-7 torr以下（Diaphragm Pump + Turbo Molecular Pump） |
| Digitizer | 2.5GHz bandwidth, 10 bits, 5 GS/s |
| Laser | 349mm波长，5ns脉宽Nd：YLF UV激光 |
| Ion Optics | Delayed Extractor, X & Y Deflector, Einzel Lens, Ion Gate, Reflector |