- •利用激光解吸/电离-飞行时间（LDI-TOF）技术，可对OLED面板、材料、器件等进行分析的质谱分析设备。
- • 以OLED试样在真空管内被激光离子化后发生的离子粒子的运动性为基础分析质谱。
- • 采用超微焦点激光和高精密平台，可检测和分析显示质量的空间分布的Mass Imaging数据。
- • 提供Prep Station和Holder/Plate，便于检测不同高度的OLED样本。
- • 在狭窄的空间也能进行安装，消耗品费用低，与其他分析法相比，可快速进行检测。
LDI-TOF
高精度质量分布图像分析
应用领域
高分子分析
多种高分子的识别与确认
有机材料分析
显示材料成分分析与质量控制（QC）
各像素（Pixel） 的质量图片
利用LDI-TOF的 OLED分析论文（国际显示器学会SID发表）
LDI-TOF（激光解吸电离飞行时间质谱）是一种用于OLED分析与检测的质谱设备，可对OLED面板进行逐像素（Pixel）直接分析。
LDI-TOF搭载了由本公司开发的能够分析5㎛以下Spot Size的超微焦点激光光学系统，基于最新网络技术（node.js）开发出全球唯一的设备运行软件，实现更好的便捷性和扩展性。
ASTA于全球抢先开发出新一代基于LDI-TOF的OLED分析设备。
设备（Specification）
| Laser | Nd:YLF UV laser (349nm), 1G shots, 5,000hours |
|---|---|
| Vacuum System | High Vacuum System |
| LxWxH | 580x1023x2144 mm |
| Weight | 350 kg |
| Option* | Bio Mass Imaging HR microscope |